디스플레이나노소재연구소
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개요 주요실적


고정자산 관리번호
모델명
Elli-SE-U
장비명
굴절율 측정기
영문명
Ellipsometer
공급사
㈜엘립소테크놀러지
취득금액
46,530,000
취득일자
2010-11-11
취득방법
입찰
사용용도
유전체, 반도체, OLED 등의 투명한 유전체 박막의 다층 및 단층 두께와 굴절율 측정
주요사양특징
- Measurement : thickness & n.k
- Thickness range : 0.5nm ~ 10μm
- Spectrum range : 355 ~ 1,030nm
키워드
infranet 검색 키워드
사진 첨부
장비사진